熱門(mén)關(guān)鍵詞: 高壓開(kāi)關(guān)動(dòng)作特性測(cè)試儀 斷路器特性測(cè)試儀 變壓器綜合測(cè)試系統(tǒng) 承裝承試設(shè)備選型 高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀 變壓器綜合測(cè)試 串聯(lián)諧振
如果電力設(shè)備各項(xiàng)預(yù)防性試驗(yàn)結(jié)果(也包括破壞性試驗(yàn))能全部符合《規(guī)程》的規(guī)定,則認(rèn)為該設(shè)備絕緣狀況良好,能投入運(yùn)行。但是對(duì)非破壞性試驗(yàn)而言,有些項(xiàng)目《規(guī)程》往往不作具體規(guī)定,有的雖有規(guī)定,然而,試驗(yàn)結(jié)果卻又在合格范圍內(nèi)出現(xiàn)“異?!?,即測(cè)量結(jié)果合格,增長(zhǎng)率很快。對(duì)這些情況如何作出正確判斷,則是每個(gè)試驗(yàn)人員非常關(guān)心的問(wèn)題。根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn),現(xiàn)將電力設(shè)備絕緣預(yù)防性試驗(yàn)結(jié)果的綜合分析判斷概括為比較法。它包括下列內(nèi)容:
(1)與設(shè)備歷次(年)的試驗(yàn)結(jié)果相互比較。因?yàn)橐话愕碾娏υO(shè)備都應(yīng)定期地進(jìn)行預(yù)防性試驗(yàn),如果設(shè)備絕緣在運(yùn)行過(guò)程中沒(méi)有什么變化,則歷次的試驗(yàn)結(jié)果都應(yīng)當(dāng)比較接近。如果有明顯的差異,則說(shuō)明絕緣可能有缺陷。
(2)與同類(lèi)型設(shè)備試驗(yàn)結(jié)果相互比較。因?yàn)閷?duì)同一類(lèi)型的設(shè)備而言,其絕緣結(jié)構(gòu)相同,在相同的運(yùn)行和氣候條件下,其測(cè)試結(jié)果應(yīng)大致相同,若懸殊很大,則說(shuō)明絕緣可能有缺陷。
(3)同一設(shè)備相間的試驗(yàn)結(jié)果相互比較。因?yàn)閷?duì)同一設(shè)備,各相的絕緣情況應(yīng)當(dāng)基本一樣,如果三相試驗(yàn)結(jié)果相互比較差異明顯,則說(shuō)明有異常的相絕緣可能有缺陷。
(4)與《規(guī)程》的要求值比較。對(duì)有些試驗(yàn)項(xiàng)目,《規(guī)程》規(guī)定了要求值,若測(cè)量值超過(guò)要求值,應(yīng)認(rèn)真分析,查找原因,或再結(jié)合其他試驗(yàn)項(xiàng)目來(lái)查找缺陷。
(5)結(jié)合被試設(shè)備的運(yùn)行及檢修等情況進(jìn)行綜合分析。 總之,應(yīng)當(dāng)堅(jiān)持科學(xué)態(tài)度,對(duì)試驗(yàn)結(jié)果必須全面地、歷史地進(jìn)行綜合分析,掌握設(shè)備性能變化的規(guī)律和趨勢(shì),這是對(duì)年來(lái)試驗(yàn)工作者經(jīng)驗(yàn)積累出來(lái)的一條綜合分析判斷試驗(yàn)結(jié)果的重要原則,并以此來(lái)正確判斷設(shè)備絕緣狀態(tài),為檢修提供依據(jù)。
為了更好進(jìn)行綜合分析判斷,除應(yīng)注意試驗(yàn)條件和測(cè)量結(jié)果的正確性外,還應(yīng)加強(qiáng)設(shè)備的技術(shù)管理,健全并積累設(shè)備資料檔案。目前我國(guó)許多單位已經(jīng)應(yīng)用計(jì)算機(jī)管理,收到良好效果。
預(yù)防性試驗(yàn)中的非破壞性試驗(yàn)的比較
表3-19列出了非破壞性試驗(yàn)基本方法的比較,在試驗(yàn)中應(yīng)充分利用它們的特點(diǎn)發(fā)掘絕緣缺陷。
表3-19 非破壞性試驗(yàn)基本方法的比較
試驗(yàn)方法 |
能發(fā)現(xiàn)的缺陷 |
不能發(fā)現(xiàn)的缺陷 |
評(píng)價(jià) |
測(cè)量絕緣電阻 |
貫通的集中性缺陷,整體受潮或有貫通性的受潮部分 |
未貫通的集中性缺陷,絕緣整體老化及游離 |
基本方法之一 |
測(cè)量吸收比和極化指數(shù) |
受潮,貫通的集中性缺陷 |
未貫通的集中性缺陷,絕緣整體老化 |
應(yīng)用于判斷受潮 |
測(cè)量泄漏電流 |
同絕緣電阻測(cè)量,但較靈敏 |
同絕緣電阻測(cè)量 |
基本方法之一 |
測(cè)量tanδ |
整體受潮、劣化,小體積被試品的貫通及未貫通缺陷 |
大體積被試品的集中性缺陷 |
基本方法之一 |
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